引言
TCB系列差分面源黑體由Inframet公司研發(fā),上海明策電子帶入中國的一類高精度差分面源黑體,專為模擬冷目標(biāo)和中等溫暖目標(biāo)的紅外輻射特性而設(shè)計(jì)。其核心優(yōu)勢在于卓越的溫度分辨率、時(shí)間穩(wěn)定性、溫度均勻性及低不確定性,使其成為熱像儀測試系統(tǒng)、國家標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室溫度標(biāo)定的理想選擇。
產(chǎn)品概述
TCB差分面源黑體采用熱電元件(Peltier)控制輻射器溫度,標(biāo)準(zhǔn)絕對(duì)溫度范圍為 0°C至100°C(可擴(kuò)展至 -40°C至180°C),輻射器面積覆蓋 50×50 mm至1000×1000 mm。其主要技術(shù)亮點(diǎn)包括:
- 溫度均勻性:優(yōu)于0.01°C(小型輻射器)至0.02°C(大型輻射器),遠(yuǎn)超常規(guī)黑體性能。
- 集成化設(shè)計(jì):控制器電子設(shè)備與黑體頭部一體化,用戶僅需連接電源和RS232/USB電纜即可通過PC控制,操作簡便且抗電磁干擾能力強(qiáng)。
- 快速響應(yīng):加熱速率最高達(dá)0.8°C/s(TCB-2D),穩(wěn)定時(shí)間最短僅需30秒。
可選版本與功能擴(kuò)展
為滿足多樣化需求,TCB系列差分面源黑體提供多種可選配置:
1. 擴(kuò)展溫度范圍
- EX選項(xiàng):通過增強(qiáng)Peltier元件和附加加熱器,將溫度范圍擴(kuò)展至 -10°C至+120°C(環(huán)境溫度20°C)。
- HT選項(xiàng):采用雙通道電子元件,支持 0°C至180°C 高溫,適用于工業(yè)高溫測試。
2. 極端環(huán)境適配
- TC選項(xiàng):優(yōu)化電子元件以耐受 -40°C至+70°C 的極端溫濕度,適用于氣候試驗(yàn)箱內(nèi)使用。
- LT選項(xiàng)(BLIQ系列):結(jié)合液體制冷技術(shù),可在環(huán)境溫度20°C下實(shí)現(xiàn) -40°C 低溫,但成本顯著增加。
3. 性能增強(qiáng)
- HE選項(xiàng):采用Vantalback S-VIS或Inframet專利涂層,將發(fā)射率提升至 0.99±0.005(前者高發(fā)射率但易損,后者更耐用)。
- DRY選項(xiàng):附加干燥空氣隔間,防止輻射器溫度低于環(huán)境溫度時(shí)水汽凝結(jié),適配不同光學(xué)孔徑的熱像儀。
4. 特殊場景優(yōu)化
- VAC選項(xiàng):真空優(yōu)化版本(獨(dú)立型號(hào)VEB/VSB),適用于真空腔室。
- CAB選項(xiàng):支持長達(dá)300米的控制電纜,適合遠(yuǎn)距離操作。
- API控制:提供.NET驅(qū)動(dòng)接口,支持Python、LabVIEW等編程語言,便于集成至自動(dòng)化系統(tǒng)。
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應(yīng)用領(lǐng)域
1. 熱像儀性能測試:小尺寸型號(hào)(如TCB-2D)廣泛用于DT/MS系統(tǒng),驗(yàn)證熱像儀的溫度靈敏度和分辨率。
2. 實(shí)驗(yàn)室標(biāo)定:高均勻性和穩(wěn)定性使其成為國家標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的溫度參考源。
3. 工業(yè)檢測:大尺寸型號(hào)(如TCB-20D)適用于汽車、航空航天領(lǐng)域的大視場紅外檢測。
4. 科研實(shí)驗(yàn):真空或極端溫度版本支持材料熱輻射特性研究。
注意事項(xiàng)與建議
- 環(huán)境溫度限制:絕對(duì)溫度范圍需根據(jù)環(huán)境溫度調(diào)整,避免超出設(shè)備設(shè)計(jì)極限。
- 干燥環(huán)境需求:當(dāng)輻射器溫度低于環(huán)境溫度約20°C時(shí),建議使用DRY選項(xiàng)或提供干燥氣體。
- 型號(hào)選擇:大型差分面源黑體(如TCB-20D)功耗高、成本昂貴,需根據(jù)實(shí)際需求權(quán)衡尺寸與性能。
TCB系列差分面源黑體憑借其高精度、模塊化設(shè)計(jì)和廣泛的可選配置,在紅外輻射源領(lǐng)域樹立了行業(yè)標(biāo)桿。無論是標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室還是復(fù)雜工業(yè)環(huán)境,其靈活性和可靠性均可滿足多樣化需求。用戶在選擇時(shí)需綜合考慮溫度范圍、輻射器尺寸及擴(kuò)展功能,以最大化設(shè)備效能。